Niveau d'étude
BAC +3
Composante
Polytech Dijon (Ex-ESIREM)
Description
Bases de cristallographie, caractérisation d'un matériau cristallisé par diffraction des rayons X
Objectifs
- Connaître les caractéristiques d’un matériau cristallisé
- Savoir représenter la symétrie d’orientation d’un matériau cristallisé grâce à une projection stéréographique
- Savoir interpréter la dénomination d’un groupe d’espace et sa représentation via les tables internationales de cristallographie
- Faire le lien entre table internationale et prédiction du diagramme de diffraction des rayons X
- Connaître les principes de la diffraction des rayons, maîtriser le fonctionnement d’un diffractomètre de rayons X et savoir interpréter un diffractogramme de rayons X
Heures d'enseignement
- CMCours Magistral12,25h
- TDTravaux Dirigés14h
- TPTravaux Pratiques4h
Pré-requis obligatoires
- Notions sur la formation des solides
- Les différents types de solides cristallins
- Empilements compacts, masse volumique et sites vacants
Modalités de contrôle des connaissances
Évaluation initiale / Session principale - Épreuves
| Type d'évaluation | Nature de l'épreuve | Durée (en minutes) | Nombre d'épreuves | Coefficient de l'épreuve | Note éliminatoire de l'épreuve | Remarques |
|---|---|---|---|---|---|---|
| CC (contrôle continu) | CC : Ecrit et/ou Oral | 2 |
Seconde chance / Session de rattrapage - Épreuves
| Type d'évaluation | Nature de l'épreuve | Durée (en minutes) | Nombre d'épreuves | Coefficient de l'épreuve | Note éliminatoire de l'épreuve | Remarques |
|---|---|---|---|---|---|---|
| CC (contrôle continu) 2nde chance | CC : Ecrit et/ou Oral | 2 |